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世佳微爾大課堂之二“電子顯微鏡顯鐵粉原形的原理”

來源: 世佳微爾科技 發布日期: 2020.03.25

今天繼續來聊世佳微爾的科普系列之二“電子顯微鏡顯鐵粉原形的原理”,上一篇文章中我們說到的兩種方法比較簡單,滿足不了某些專業客戶的認可。電子顯微鏡按結構和用途可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發射式電子顯微鏡等,接下來主要介紹的是掃描顯微鏡。


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使用掃描電子顯微鏡SEM觀察鐵粉形貌和粒度

世佳微爾會采用的工具之一掃描電子顯微鏡SEM,其原理是依據電子與物質的相互作用。當一束高能的入射電子轟擊物質表面時,被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續譜X射線、背散射電子、透射電子,以及在可見、紫外、紅外光區域產生的電磁輻射。同時,也可產生電子-空穴對、晶格振動 (聲子)、電子振蕩 (等離子體)。原則上講,利用電子和物質的相互作用,可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的信息,如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等等。

           

通過掃描電子顯微鏡對粉末進行掃描,世佳微爾可以通過掃描照片直接觀察到粉末顆粒的微觀形貌,同時根據掃描照片上的標尺,我們可以大致觀察到掃描區域粉末的粒度分布,借助一定的軟件,通過手動選取照片上的樣本,可以進一步較為準備測量出掃描區域粉末的粒度分布。 

 

世佳微爾生產的鐵粉,形貌為不規則形狀,粒徑分布較為均勻,純度較高,適用于不同行業,更多詳情,歡迎咨詢。

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